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Ausschreibung: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke - DE-München
Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
Dokument Nr...: 115640-2017 (ID: 2017032909032730533)
Veröffentlicht: 29.03.2017
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DE-München: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
2017/S 62/2017 115640
Vorinformation
Diese Bekanntmachung dient der Verkürzung der Frist für den Eingang der
Angebote
Lieferauftrag
Richtlinie 2014/24/EU
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
I.1)Name und Adressen
Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.
über Vergabeportal eVergabe
Hansastr. 27 c
München
80686
Deutschland
E-Mail: [1]fraunhofer@deutsche-evergabe.de
NUTS-Code: DE212
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: [2]http://www.fraunhofer.de
Adresse des Beschafferprofils: [3]http://www.deutsche-evergabe.de/
I.2)Gemeinsame Beschaffung
I.3)Kommunikation
Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen
Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten
Kontaktstellen
I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
Andere: Forschungsgesellschaft e. V.
I.5)Haupttätigkeit(en)
Andere Tätigkeit: Forschung und Entwicklung
Abschnitt II: Gegenstand
II.1)Umfang der Beschaffung
II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:
Substratqualifizierungslabor.
Referenznummer der Bekanntmachung: E_079_229389 grg-wit FMD
II.1.2)CPV-Code Hauptteil
42990000
II.1.3)Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4)Kurze Beschreibung:
Gerät zur zerstörungsfreien, vollflächigen Detektion oberflächennaher
Kristallfehler in SiC und anderen Halbleitermaterialien Für die
Performance und Zuverlässigkeit von SiC in der Leistungselektronik
(insb. SiC-Dioden, SiC-MOSFET), aber auch von anderen neuen
Materialien, spielen Materialdefekte eine große Rolle. Dies betrifft
Defekte an der Oberfläche von Substraten und Epitaxieschichten. Solche
oberflächennahen Fehler sind Kratzer, Partikel und Pits, bis hin zu
ausgedehnten Materialdefekten wie BPDs auf SiC-Substraten und anderen
WBG-Materialien. Fortsetzung in II.2.4.
II.1.5)Geschätzter Gesamtwert
II.1.6)Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.2)Beschreibung
II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DE252
Hauptort der Ausführung:
91058 Erlangen.
II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
Ergänzung zu II.1.4) Diese Materialfehler müssen erkannt und ggf. die
betroffenen Stellen für die nachfolgende Bauelementherstellung
ausselektiert werden. Aus diesem Grund beabsichtigt das Fraunhofer
IISB, ein hochauflösendes Gerät anzuschaffen zur zerstörungsfreien,
vollflächigen Detektion oberflächennaher Kristallfehler für SiC und
andere WBG-Materialen auf Waferdurchmessern >=150 mm. Das Gerät muss
neben der Hardware auch über eine Software inkl. Datenbank verfügen, um
die unterschiedlichen Defekte automatisch klassifizieren und deren
Position auf dem Wafer nach nutzdefinierten Vorgaben in Form von
Defektfehlerkarten automatisiert auswerten zu können.
II.2.5)Zuschlagskriterien
II.2.6)Geschätzter Wert
II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
dynamischen Beschaffungssystems
Laufzeit in Monaten: 8
II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
II.2.11)Angaben zu Optionen
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14)Zusätzliche Angaben
II.3)Voraussichtlicher Tag der Veröffentlichung der
Auftragsbekanntmachung:
24/04/2017
Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische
Angaben
III.1)Teilnahmebedingungen
III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen
hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister
III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
III.1.5)Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen
III.2)Bedingungen für den Auftrag
III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags:
III.2.3)Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal
Abschnitt IV: Verfahren
IV.1)Beschreibung
IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen
Beschaffungssystem
IV.1.6)Angaben zur elektronischen Auktion
IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja
IV.2)Verwaltungsangaben
IV.2.5)Voraussichtlicher Beginn der Vergabeverfahren:
Abschnitt VI: Weitere Angaben
VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen
VI.3)Zusätzliche Angaben:
Detaillierung erfolgt mit der Veröffentlichung des Vergabeverfahrens.
VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Villemombler Straße 76
Bonn
53123
Deutschland
VI.4.2)Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt
ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI 4.1
genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen
Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten
Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir
weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen
Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht
berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB
informiert.
VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen
erteilt
VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
24/03/2017
References
1. mailto:fraunhofer@deutsche-evergabe.de?subject=TED
2. http://www.fraunhofer.de/
3. http://www.deutsche-evergabe.de/
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